一、机械杂质测定仪操作前准备:
1.仪器检查与校准
清洁度确认：确保测定仪的进样系统、传感器、管路等部件无残留污染物，必要时用溶剂（如石油醚、乙醇）清洗并干燥。
校准标定：
使用标准样品（已知杂质浓度）进行校准，调整仪器参数（如光散射强度、阈值设定）。
对于光学式仪器（如激光散射法），需校准光源强度和探测器灵敏度。
对于称重法（如滤膜法），提前校准电子天平（精度至少0.1mg）。
2.样品预处理
均匀性处理：若样品为悬浮液或黏稠液体，需充分搅拌或超声振荡，确保杂质均匀分布。
温度控制：将样品恢复至室温（避免温差导致密度变化影响结果），或按标准要求加热/冷却至指*温度。
过滤或稀释：若杂质浓度过高，按标准比例稀释样品；若采用滤膜法，选择合适孔径的滤膜。
二、机械杂质测定仪数据记录与结果验证
1.记录内容
样品名称、批号、测试日期、环境条件（温度、湿度）。
仪器型号、参数设置、校准信息。
原始数据（如滤膜重量、散射光强度、颗粒计数）。
2.结果验证
平行实验：对同一样品进行多次测试，相对偏差应小于10%（具体依标准要求）。
对照实验：定期用标准样品验证仪器准确性，偏差超出允许范围时需重新校准。
异常值处理：剔除明显偏离的异常数据（如操作失误导致的污染），并记录原因。
三、机械杂质测定仪仪器维护与常见故障排除
1.日常维护
关闭仪器前清洗管路和传感器，定期检查滤膜、光源、探测器等易损件。
长期停用时需覆盖防尘罩，并定期开机预热（防止电子元器件受潮）。
2.故障处理
光学仪器信号异常：检查光源老化、透镜污染或比色皿划痕。
称重法误差大：确认滤膜烘干是否完*、天平校准是否失效。
颗粒计数器误判：检查样品气泡、传感器窗口清洁度或阈值设定。
